超低頻耐壓測試儀通用技術(shù)條件電壓和波形要求

　　超低頻高壓發(fā)生器輸出電壓和波形的通用技術(shù)要求。超低頻高壓發(fā)生器的峰值輸出電壓應(yīng)在額定電壓范圍內(nèi)可調(diào)，輸出電壓和波形應(yīng)滿足以下要求：

　　1、超低頻高壓發(fā)生器峰值輸出電壓的不穩(wěn)定性小于1%；

　　2、輸出電壓的頻率不穩(wěn)定性小于3%；

　　3、輸出正弦電壓波形畸變率小于5%；

　　4、輸出余弦方波電壓的極性轉(zhuǎn)換時間不超過10ms

　　5、超低頻高壓發(fā)生器輸出電壓正負(fù)半波誤差小于0.5s，正負(fù)半波峰值偏差小于5%。

　　超低頻高壓發(fā)生器電壓不穩(wěn)定性測試：將超低頻高壓發(fā)生器的高壓端接額定電容為50%的容性負(fù)載樣品（如電力電容器），外接電壓測量連接了綜合誤差≤1.0%的設(shè)備。當(dāng)測量的高壓輸出電壓峰值在60分鐘內(nèi)逐漸上升到額定值的1.0倍時，測量輸出電壓峰值10次。經(jīng)計算，峰值輸出電壓的不穩(wěn)定性應(yīng)滿足1。

　　在頻率穩(wěn)定性測試中，超低頻高壓發(fā)生器的高壓端接額定容量為50%的容性負(fù)載樣品（如電力電容器），外接電壓測量裝置≤1.0%的綜合誤差是連通的。當(dāng)測量的高壓輸出電壓峰值在60分鐘內(nèi)逐漸上升到額定值的1.0倍時，測量輸出電壓頻率10次。經(jīng)計算，輸出電壓的頻率不穩(wěn)定性應(yīng)滿足2的要求。

　　在正弦電壓波形畸變率測試中，將超低頻高壓發(fā)生器的高壓端連接到額定容量為50%的容性負(fù)載樣本（如電力電容），并連接外接電壓綜合誤差≤1.5%的測量裝置測量高壓輸出電壓峰值逐漸上升至額定值0.3、0.5、0.8、1.0倍時的輸出電壓波形。超低頻高壓發(fā)生器輸出的正弦電壓波形失真率應(yīng)滿足3。

　　在余弦電壓極性轉(zhuǎn)換時間測試中，將超低頻高壓發(fā)生器的高壓端連接到容量為額定電容50%的容性負(fù)載樣品（如電力電容器）上，并連接綜合誤差≤1.5%的電壓測量裝置。測量高壓輸出電壓峰值逐漸上升到額定值的0.3、0.5、0.8、1.0倍時的輸出電壓波形。

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