JL-5000V絕緣電阻測試儀的充電能力對容性試品絕緣測試的影響
“中華人民共和國電力行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)DL/T 845.1－2004 電子式絕緣電阻表”中，“5.7輸出短路電流”條和“6.5工作電壓建立時間”條，對電子式絕緣電阻表的輸出短路電流和工作電壓建立時間給出了要求。這是因為絕緣電阻表的這兩項能力指標(biāo)對于變壓器、電纜、電機(jī)等大型設(shè)備絕緣電阻、吸收比、極化指數(shù)的準(zhǔn)確測量具有極大的影響。           
下面我們就這兩項指標(biāo)對絕緣測試的影響及檢測方法作一些粗簡的定量分析，給電力系統(tǒng)作絕緣檢測的工程技術(shù)人員提供一個參考。                                                                     
JL2009智能絕緣電阻測試儀輸出短路電流的大小可反映出該絕緣電阻表內(nèi)部輸出高壓源內(nèi)阻的大小。當(dāng)被測試品存在電容量時，在測試過程的開始階段，絕緣電阻表內(nèi)的高壓源要通過其內(nèi)阻向該電容充電，并逐步將電壓充到絕緣電阻表的輸出額定高壓值。
這種狀態(tài)如下圖示
顯然，如果試品的電容量值很大，或高壓源內(nèi)阻很大，這一充電過程的耗時就會加長。其時間可由R內(nèi)和C負(fù)載的乘積τ決定（單位為秒）。
試品上的端電壓即電容C上的電壓由下式?jīng)Q定：
…………………………………（1式）
式中：UC為試品上的端電壓
t為試品施加高壓的時間
τ（= RX·C）為時間常數(shù)，其中RX = r//R
請注意，給電容充電的電流IC與被測試品絕緣電阻上流過的電流IR，在測試中是一起組成IX,, 并流入絕緣電阻表內(nèi)作為被測電流。即絕緣電阻表測得的電流不僅有絕緣電阻上的分量，也加入了電容充電電流分量，這使測得的絕緣電阻值偏小。
例如：
額定電壓為5000V的絕緣電阻表，若其短路輸出電流為80μA，
其內(nèi)阻為：5000V/80μA＝62MΩ
如果試品容量為0.15μF，則時間常數(shù)τ=62MΩ×0.15μF≈9 (秒)
在18秒時刻，我們按（1式）計算得到，電容上的電壓（B點）僅為4323V,
試品與高壓源間的電壓差（A、B點間）為：5000V－4323V=676V
則充電電流應(yīng)為：676V÷60 MΩ=11.3μA。
由此可見，僅由充電電流而形成的等效電阻為：
5000V÷11.3μA＝442MΩ
若正確絕緣值為1000MΩ，則顯示的測得絕緣值僅為306MΩ。
這種試值已不能反映絕緣值的真實狀況了，而且試值主要是隨容性負(fù)載容量的變化而改變，即容量小，測試阻值大；容量大，測試阻值小。它會使吸收比值R60S/R15S嚴(yán)重偏大。
所以，為保障準(zhǔn)確測得R15S，R60S的試值，應(yīng)選用充電速度快的大容量絕緣電阻表。
“DL/T 845.1－2004 電子式絕緣電阻表”中, 要求絕緣電阻表輸出短路電流應(yīng)大于0.5mA、1 mA、2 mA、5 mA，要求高的場合應(yīng)盡量選擇輸出短路電流較大的絕緣電阻表。
按如下圖示的檢定方法，可鑒別絕緣電阻表的充電能力及其對吸收比R60S/R15S測量的影響量。
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圖中：C可采用CBB型無極化優(yōu)良品質(zhì)的電容，且吸收電荷極少；容量為0.15μ/6.3kV R可采用5000MΩ/5kV的電阻。
當(dāng)測量時間為15秒時，儀器顯示應(yīng)為R15S＞4750 MΩ(因有電容C存在，所以被測阻值要比標(biāo)稱值小5%);
當(dāng)測量時間為60秒時，儀器顯示應(yīng)為R60S=5000MΩ，吸收比應(yīng)為R60S/R15S≤1.05。 說明：在第15秒時刻，儀器向電容C充電的電流越小，表示儀器的充電能力越強(qiáng)，吸收比就越趨于“1”。在現(xiàn)場測試的吸收比才越準(zhǔn)確。
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